ATTENTION/WARNING - NE PAS DÉPOSER ICI/DO NOT SUBMIT HERE

Ceci est la version de TEST de DIAL.mem. Veuillez ne pas soumettre votre mémoire sur ce site mais bien à l'URL suivante: 'https://thesis.dial.uclouvain.be'.
This is the TEST version of DIAL.mem. Please use the following URL to submit your master thesis: 'https://thesis.dial.uclouvain.be'.
 

Etude du temps de vie de paires électrons-trous et caractérisation de NiO dans des jonctions de panneaux solaires à production d'hydrogène

Durbecq, Sébastien
(2019)

Files

Durbecq_54471000_2019.pdf
  • UCLouvain restricted access
  • Adobe PDF
  • 2.94 MB

Details

Supervisors
Proost, Joris ; Flandre, Denis
Faculty
Ecole polytechnique de Louvain
Degree label
Master [120] : ingénieur civil en chimie et science des matériaux
Abstract
Ce mémoire a pour vocation d'étudier des panneaux solaires produisant de l'hydrogène. Divers matériaux sont étudiés tels que le silicium et l'oxyde de nickel. Une bonne passivation du silicium dopé a été réalisée avec une couche d'oxyde de silicium. Ceci fut réalisé et étudié en salle blanche par un nettoyage standard suivi d'une étape d'oxydation dans un four et finalisé par un passage dans un four à hydrogène. Les résultats sont fournis par une mesure du temps de vie des charges créées par un flash lumineux. Ensuite, ce mémoire s'intéresse à l'oxyde de nickel, couche sélective au niveau des charges. Une couche de NiO mince (4nm) est déposé par sputtering sur le silicium passivé. Diverses mesures électriques ont été réalisées afin de caractériser cet oxyde telles (i) qu'un test de transparence, (ii) une diffraction par rayon-x, (iii) des tests courant-tension, (iiii) une mesure de résistivité par un test à 4 contacts.